L線を超える(領域
以上)エコーを異常部として検出し、探触子の位置、ビーム路程(超音波が試験体に入射した位置から反射源までの距離)、溶接部の状況などから、異常部が欠陥かどうか判定します。評価基準を次に示します。
欠陥指示長さが上表に規定した「欠陥指示長さの最小値」以上の欠陥が複数存在する場 合は、それらの欠陥が同一欠陥群とみなせるか、または独立した欠陥であるかを判別して、それぞれの場合に応じて欠陥評価長さLeを求めます。同一欠陥群とみなされる場合の欠陥評価長さLeは、それらの欠陥の欠陥指示長さと間隔を足し合わせた長さとなります。